Author: R. E. Anderson, J. E. Boggan, L. J. Cerullo, M. C. Chan, G. J. Dohrmann, M. S. B. Edwards, V. A. Fasano, J. M. Gilsbach, A. Harders, R. M. Ikeda, P. J. Kelly, E. R. Laws Jr., G. Lee, T. Letardi, D. T. Mason, C. R. Neblett, R. W. Rand, A. Renieri, I. L. Richmond, J. M. Rubin, A. W. Silberman, R. Urciuoli, R. E. Wharen Jr. (auth.), Professor Victor Aldo Fasano (eds.)
Author: S. S. Abhyankar, V. Abramov, A. Adem, L. Aizenberg, S. Albeverio, Luís J. Alías, H. Andréka, B. N. Apanasov, I. Assani, K. Atanassov, S. Axler, A. Bagchi, K. Balachandran, R. B. Bapat, C. Bardos, T. Bartsch, P. W. Bates, E. S. Belinsky, A. Ben-Israel, R. D. Benguria, Ch. Berg, V. Bergelson, F. Beukers, A. Bloch, D. L. Boley, C. de Boor, J. -P. Brasselet, R. Brown, W. Dale Brownawell, T. Brzezinski, M. Buhmann, A. Bultheel, D. Bump, S. Caenepeel, R. E. Caflisch, B. D. Calvert, R. Carroll, O. Chan, F. Clarke, Flávio Ulhoa Coelho, D. J. Collins, A. K. Common, S. C. Coutinho, C. Croke, G. Csordas, Raúl E. Curto, H. G. Dales, L. Debnath, M. Deistler, A. Derighetti, J. K. Deveney, U. Dieter, P. Dräxler, V. Drensky, M. Dror, C. F. Dunkl, A. Duval, T. Ehrhardt, B. Eisenberg, S. Elaydi, E. Elizalde, K. Engel, E. Enochs, M. Eytan, Y. Fang, E. J. Farrell, A. Fernández López, C. Foias, A. S. Fraenkel, M. Fukushima, T. Gannon, J. von zur Gathen, S. Gelbart, L. Gemignani, S. K. Ghosh, J. F. Glazebro