Home Advanced Search

Advanced Search - Page 1

Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография
  • DJVU
  • Russian
  • Year: 2002
  • Author: Боуэн Д.К., Таннер Б.К.(Bowen,Tanner)
X-ray metrology in semiconductor manufacturing
  • PDF
  • English
  • Year: 2006
  • Author: D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
Методы символической динамики
  • DJVU
  • Russian
  • Year: 1979
  • Author: Боуэн Р.
Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods
  • PDF
  • English
  • Year: 1980
  • Author: Eugene S. Meieran (auth.), Dr. Brian K. Tanner, Dr. D. Keith Bowen (eds.)
Радиоактивационный анализ
  • DJVU
  • Russian
  • Year: 1968
  • Author: Боуэн Г., Гиббонс Д.