Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум
- Author
- Волкова Е. В., Забавичев И. Ю., Оболенский С. В.
- Publisher
- ЭБС Лань
- Language
- Russian
- Year
- 2014
- File Type
- pdf
- File Size
- 789.8 KiB
How to Download?!!!
Just click on START button on Telegram Bot