Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalyse
- Author
- U. Bonse (auth.), Professor Dr. G. Möllenstedt, Dr. K. H. Gaukler (eds.)
- Publisher
- Springer-Verlag Berlin Heidelberg
- Language
- German
- Edition
- 1
- Year
- 1969
- Page
- 612
- ISBN
- 978-3-662-22845-6,978-3-662-24778-5
- File Type
- pdf
- File Size
- 29.7 MiB
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