Adaptive Bayes’sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung
- Author
- Dr. Ulrich Rendtel, Professor Dr. Hans-Joachim Lenz (auth.)
- Publisher
- Physica-Verlag Heidelberg
- Language
- German
- Edition
- 1
- Year
- 1990
- Page
- 231
- ISBN
- 978-3-7908-0468-3,978-3-662-11027-0
- File Type
- pdf
- File Size
- 11.6 MiB
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