Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум: учебное пособие для вузов
- Author
- Елманов Г.Н., Логинов Б.А., Севрюков О.Н.
- Publisher
- Национальный исследовательский ядерный университет «Московский инженерно-физический институт»
- Language
- Russian
- Year
- 2011
- Page
- 64
- ISBN
- 978-5-7262-1581-5
- File Type
- pdf
- File Size
- 1.7 MiB
How to Download?!!!
Just click on START button on Telegram Bot