Статистический анализ и оптимизация технологических параметров изготовления интегральных микросхем: учебно-метод. пособие для курсов лекций и лабораторных работ по дисциплинам "Расчет и проектирование элементов ин тегральных схем и полупроводниковых приборов", "Основы САПР в микро электронике", "Моделирование технологических процессов микроэлектроники" для студентов специальности 41 01 02 "Микроэлектроника"
- Author
- Нелаев, В. В.
- Publisher
- БГУИР
- Language
- Russian
- Page
- 63
- File Type
- pdf
- File Size
- 28.1 MiB
How to Download?!!!
Just click on START button on Telegram Bot
Free Download Book