Author: R. E. Anderson, J. E. Boggan, L. J. Cerullo, M. C. Chan, G. J. Dohrmann, M. S. B. Edwards, V. A. Fasano, J. M. Gilsbach, A. Harders, R. M. Ikeda, P. J. Kelly, E. R. Laws Jr., G. Lee, T. Letardi, D. T. Mason, C. R. Neblett, R. W. Rand, A. Renieri, I. L. Richmond, J. M. Rubin, A. W. Silberman, R. Urciuoli, R. E. Wharen Jr. (auth.), Professor Victor Aldo Fasano (eds.)
Author: L. A. Bunimovich, D. Burago, N. Chernov, E. G. D. Cohen, C. P. Dettmann, J. R. Dorfman, S. Ferleger, R. Hirschl, A. Kononenko, J. L. Lebowitz, C. Liverani, T. J. Murphy, J. Piasecki, H. A. Posch, N. Simányi, Ya. Sinai, D. Szász, T. Tél, H. van Beijeren, R. van Zon, J. Vollmer, L. S. Young (auth.), D. Szász (eds.)