Author: R. S. Harrison, P. C. Sharpe, Y. Singh (auth.), S.G. Amara, E. Bamberg, B. Fleischmann, T. Gudermann, S.C. Hebert, R. Jahn, W.J. Lederer, R. Lill, A. Miyajima, S. Offermanns, R. Zechner (eds.)
Author: E. Bettiol, S. Clement, K. H. Krause (auth.), S.G. Amara, E. Bamberg, T. Gudermann, S.C. Hebert, R. Jahn, W.J. Lederer, R. Lill, A. Miyajima, S. Offermanns (eds.)
Author: S. Rospert, M. Rakwalska (auth.), S. G. Amara, E. Bamberg, S. Grinstein, S. C. Hebert, R. Jahn, W. J. Lederer, R. Lill, A. Miyajima, H. Murer, S. Offermanns, G. Schultz, M. Schweiger (eds.)
Author: A. Bigiani, C. Mucignat-Caretta, G. Montani (auth.), S.G. Amara, E. Bamberg, S. Grinstein, S.C. Hebert, R. Jahn, W.J. Lederer, R. Lill, A. Miyajima, H. Murer, S. Offermanns, G. Schultz, M. Schweiger (eds.)
Author: E. A. Craig, P. Huang, R. Aron, A. Andrew (auth.), S.G. Amara, E. Bamberg, S. Grinstein, S.C. Hebert, R. Jahn, W.J. Lederer, R. Lill, A. Miyajima, H. Murer, S. Offermanns, G. Schultz, M. Schweiger (eds.)
Author: M. Krauss, V. Haucke (auth.), Susan G. Amara, Ernst Bamberg, Bernd K. Fleischmann, Thomas Gudermann, Reinhard Jahn, William J. Lederer, Roland Lill, Bernd Nilius, Stefan Offermanns (eds.)