Author: Donald E. Billings, Wallace S. Broecker, Reid A. Bryson, Allan Cox, Paul E. Damon, William L. Donn, Erik Eriksson, Maurice Ewing, J. O. Fletcher, Warren Hamilton, M. Jerzykiewicz, John E. Kutzbach, Edward N. Lorenz, Yale Mintz, J. Murray Mitchell Jr., Barry Saltzman, K. Serkowski, William C. Shen, Hans E. Suess, William F. Tanner, Peter K. Weyl, L. V. Worthington (auth.), J. Murray Mitchell Jr. (eds.)
Author: R. E. Anderson, J. E. Boggan, L. J. Cerullo, M. C. Chan, G. J. Dohrmann, M. S. B. Edwards, V. A. Fasano, J. M. Gilsbach, A. Harders, R. M. Ikeda, P. J. Kelly, E. R. Laws Jr., G. Lee, T. Letardi, D. T. Mason, C. R. Neblett, R. W. Rand, A. Renieri, I. L. Richmond, J. M. Rubin, A. W. Silberman, R. Urciuoli, R. E. Wharen Jr. (auth.), Professor Victor Aldo Fasano (eds.)
Author: Haruhiro Inoue (auth.), Bruce V. MacFadyen Jr. MD, Maurice E. Arregui MD, Steve Eubanks MD, Douglas O. Olsen MD, Jeffrey H. Peters MD, Nathaniel J. Soper MD, Lee L. Swanström MD, Steven D. Wexner MD (eds.)