Author: Philip Rahtz, F. W. Anderson, L. Biek, G. C. Boon, D. Charlesworth, R. H. M. Dolley, E. Eames, J. Evans, A. Garrard, I. H. Goodall, G. W. Green, W. Greenwood, B. Hartley, P. Hembry, E. Higgs, F. Neale, D. P. S. Peacock, R. Power
Author: S. M. Anstis, J. Atkinson, C. Blakemore, O. Braddick, T. Brandt, F. W. Campbell, S. Coren, J. Dichgans, P. C. Dodwell, P. D. Eimas, J. M. Foley, R. Fox, L. Ganz, M. Garrett, E. J. Gibson, J. S. Girgus, M. M. Haith, Y. Hatwell, E. R. Hilgard, D. Ingle, G. Johansson, B. Julesz, M. Konishi, J. R. Lackner, E. Levinson, A. M. Liberman, L. Maffei, T. Oyama, A. Pantle, E. Pöppel, R. Sekuler, C. F. Stromeyer, M. Studdert-Kennedy, H.-L. Teuber, R. K. Yin (auth.), Richard Held, Herschel W. Leibowitz, Hans-Lukas Teuber (eds.)
Author: D. Cuadra, E. Castro, A. M. Iglesias, P. Martinez, F. J. Calle, C. de Pablo, H. Al - Jumaily, L. Moreno, S. Garcia M., J. L. Martinez, J. Rivero, I. Segura