Author: J. P. Bruce (auth.), B. K. Afghan, D. Mackay, H. E. Braun, A. S. Y. Chau, J. Lawrence, D. R. S. Lean, O. Meresz, J. R. W. Miles, R. C. Pierce, G. A. V. Rees, R. E. White, D. M. Whittle, D. T. Williams (eds.)
Author: R. E. Anderson, J. E. Boggan, L. J. Cerullo, M. C. Chan, G. J. Dohrmann, M. S. B. Edwards, V. A. Fasano, J. M. Gilsbach, A. Harders, R. M. Ikeda, P. J. Kelly, E. R. Laws Jr., G. Lee, T. Letardi, D. T. Mason, C. R. Neblett, R. W. Rand, A. Renieri, I. L. Richmond, J. M. Rubin, A. W. Silberman, R. Urciuoli, R. E. Wharen Jr. (auth.), Professor Victor Aldo Fasano (eds.)
Author: R. W. Ashworth, E. W. J. de Maar, S. Johne, Y. V. Natochin, M. Nath Pal, S. K. Puri, G. P. Dutta, A. Scriabine, D. G. Taylor, E. Hong, S. Sharma, E. S. Charles, E. K. Weisburger, W. D. Winters (auth.), Ernst Jucker (eds.)
Author: G. W. Beadle, F. E. Brauns, V. Deulofeu, M. Doudoroff, D. L. Fox, E. Geiger, A. J. Haagen-Smith, W. Z. Hassid, T. P. Hilditch, P. Karrer, E. Pacsu, R. S. Rasmussen (auth.)