Author: Dr. W. Asmus, Prof. Dr. D. Farny, Dr. Dr. E. Höft, Dr. H. Moser, Dr. J. Müller-Stein, H. Schreiber, H. J. Wilke, Dr. M. Bargen, G. Ridder, Dr. G. Voß, Dr. E. Benner, Prof. Dr. R. Eisen, Dr. G. Lukarsch, Prof. Dr. W. Mahr, H. Schildmann, Dipl.-Ing. W. Meyer-Rassow, Prof. Dr. H. L. Müller-Lutz, Dr. R. Seifert, K. Nipperdey, Dipl.-Betriebswirt L. Wenzl, Dr. A. Doerry, Dr. P. Hagelschuer, Prof. Dr. P. Koch, Prof. Dr. Dr.-Ing. E. h. R. Schmidt, Prof. Dr. W. Karten, Dr. J. Richter, Dr. H. Riebesell, Prof. Dr. K. Sieg, Dipl.-Kfm. H. Rössler, H. Stoppel, Dr. H. J. Enge, Prof. Dr. M. Haller, Prof. Dr. E. Helten, H. Köhler, Dr H. Stech (auth.)
Author: L. Phi-Van, W. H. Strätling (auth.), Prof. Dr. Philippe Jeanteur, Dr. Yoshiyuki Kuchino, Prof. Dr. Werner E. G. Müller, Prof. Dr. Philip L. Paine (eds.)