Author: R. E. Anderson, J. E. Boggan, L. J. Cerullo, M. C. Chan, G. J. Dohrmann, M. S. B. Edwards, V. A. Fasano, J. M. Gilsbach, A. Harders, R. M. Ikeda, P. J. Kelly, E. R. Laws Jr., G. Lee, T. Letardi, D. T. Mason, C. R. Neblett, R. W. Rand, A. Renieri, I. L. Richmond, J. M. Rubin, A. W. Silberman, R. Urciuoli, R. E. Wharen Jr. (auth.), Professor Victor Aldo Fasano (eds.)
Author: C. W. Thornthwaite, J. R. Mather, W. G. Wellington, J. D. Findlay, L. P. Herrington, H. F. Blum, C. Monge M., G. Duell, B. Duell, F. Sargent II, H. Landsberg, K. Buettner, J. M. May, J. H. Foulger (auth.), F. Sargent II, R. G. Stone (eds.)