Author: J. P. Bruce (auth.), B. K. Afghan, D. Mackay, H. E. Braun, A. S. Y. Chau, J. Lawrence, D. R. S. Lean, O. Meresz, J. R. W. Miles, R. C. Pierce, G. A. V. Rees, R. E. White, D. M. Whittle, D. T. Williams (eds.)
Author: Alexander Hollaender (auth.), Alexander Hollaender, R. H. Burris, P. R. Day, R. W. F. Hardy, D. R. Helinski, M. R. Lamborg, L. Owens, R. C. Valentine (eds.)
Author: R. E. Anderson, J. E. Boggan, L. J. Cerullo, M. C. Chan, G. J. Dohrmann, M. S. B. Edwards, V. A. Fasano, J. M. Gilsbach, A. Harders, R. M. Ikeda, P. J. Kelly, E. R. Laws Jr., G. Lee, T. Letardi, D. T. Mason, C. R. Neblett, R. W. Rand, A. Renieri, I. L. Richmond, J. M. Rubin, A. W. Silberman, R. Urciuoli, R. E. Wharen Jr. (auth.), Professor Victor Aldo Fasano (eds.)
Author: David C. Demirjian, Pratik C. Shah (auth.), Prof. Dr. Wolf-Dieter Fessner, A. Archelas, D. C. Demirjian, R. Furstoss, H. Griengl, K. -E. Jaeger, E. Morís-Varas, R. Öhrlein, M. T. Reetz, J.-L. Reymond, M. Schmidt, S. Servi, P. C. Shah, W. Tischer, F. Wedekind (eds.)