Author: R. E. Anderson, J. E. Boggan, L. J. Cerullo, M. C. Chan, G. J. Dohrmann, M. S. B. Edwards, V. A. Fasano, J. M. Gilsbach, A. Harders, R. M. Ikeda, P. J. Kelly, E. R. Laws Jr., G. Lee, T. Letardi, D. T. Mason, C. R. Neblett, R. W. Rand, A. Renieri, I. L. Richmond, J. M. Rubin, A. W. Silberman, R. Urciuoli, R. E. Wharen Jr. (auth.), Professor Victor Aldo Fasano (eds.)
Author: T. A. Roberts{roJoint Chairman}, J.-L. Cordier, L. Gram (auth.), T. A. Roberts{roJoint Chairman}, J.-L. Cordier, L. Gram, R. B. Tompkin, J. I. Pitt{roJoint Chairman}, L. G. M. Gorris, K. M. J. Swanson (eds.)