Author: David O. White (auth.), W. Arber, R. Haas, W. Henle, P. H. Hofschneider, N. K. Jerne, P. Koldovský, H. Koprowski, O. Maaløe, R. Rott, H. G. Schweiger, M. Sela, L. Syruček, P. K. Vogt, E. Wecker (eds.)
Author: J. P. Bruce (auth.), B. K. Afghan, D. Mackay, H. E. Braun, A. S. Y. Chau, J. Lawrence, D. R. S. Lean, O. Meresz, J. R. W. Miles, R. C. Pierce, G. A. V. Rees, R. E. White, D. M. Whittle, D. T. Williams (eds.)
Author: K. T. Brunner, C. E. Calkins, J.-C. Cerottini, C. C. Congdon, E. L. Cooper, H. Cottier, D. A. L. Davies, F. Eitel, J. Hagmann, E. S. Henderson, M. Hess, M. W. Hess, E. N. Hinzpeter, H. P. Hobik, T. Hraba, M. Jäger, P. H. K. Jap, M. Jeannet, C. R. Jerusalem, G. R. F. Krueger, H. U. Keller, Z. J. Lucas, G. O. H. Naumann, R. Pichlmayr, L. Schweiberer, M. Segall, R. Storb, O. Stutman, C. J. Wirth, K. Wonigeit (auth.), Johann Wilhelm Masshoff (eds.)
Author: E. A. Cooper, K. S. Kirkpatrick, B. J. Christensen, B.-S. Hong, T. O. Mason (auth.), Kozo Ishizaki, Koichi Niihara, Mitsuo Isotani, Renée G. Ford (eds.)
Author: D. K. C. Cooper, E. Kemp, K. Reemtsma, D. J. G. White (auth.), D. K. C. Cooper M. D. Ph. D., Ejvind Kemp M. D., Keith Reemtsma M. D., D. J. G. White Ph. D., MRC Path. (eds.)
Author: F. Lacour, E. Nahon-Merlin, M. Michelson (auth.), W. Arber, R. Haas, W. Henle, P. H. Hofschneider, N. K. Jerne, P. Koldovský, H. Koprowski, O. Maaløe, R. Rott, H. G. Schweiger, M. Sela, L. Syruček, P. K. Vogt, E. Wecker (eds.)