Author: S. Yamamoto, T. Yoshimoto, H. Suzuki, N. Ueda, K. Natsui, Y. Takahashi, T. Maruyama (auth.), Kenneth V. Honn, Lawrence J. Marnett, Santosh Nigam, Thomas L. Walden Jr. (eds.)
Author: Gian Töndury (auth.), A. Brunner, A. Bühlmann, F. Escher, W. Gloor-Meyer, H. Grunze, E. Hanhart, R. Hoigné, G. Hossli, F. Koller, H. Löffler, P. H. Rossier, G. Töndury, E. Wiesmann, R. Wolfer, A. Zuppinger, A. F. Essellier, K. Graf, R. Hegglin, M. Kartagener, K. Lottenbach, R. Luchsinger, B. Noelpp, I. Noelpp-Eschenhagen, E. Rossi, L. Rüedi, E. Tanner, E. Uehlinger, W. Behrens Jr., W. Bollag, U. Cocchi, H. Gessner, E. Haefliger, D. Högger, G. Jaccard, P. Jeanneret, W. Löffler, G. Mark, A. Ott, H. J. Schmid, E. Schwarz, T. Wegmann, K. Mülly, O. Spühler, D. Staehelin (eds.)