Author: R. E. Anderson, J. E. Boggan, L. J. Cerullo, M. C. Chan, G. J. Dohrmann, M. S. B. Edwards, V. A. Fasano, J. M. Gilsbach, A. Harders, R. M. Ikeda, P. J. Kelly, E. R. Laws Jr., G. Lee, T. Letardi, D. T. Mason, C. R. Neblett, R. W. Rand, A. Renieri, I. L. Richmond, J. M. Rubin, A. W. Silberman, R. Urciuoli, R. E. Wharen Jr. (auth.), Professor Victor Aldo Fasano (eds.)
Author: Paul Gross, John T. McCarthy (auth.), S. R. Brunauer, P. Gross, O. Hornstein, E. G. Jung, H. Kuske, W. F. Lever, C. March, J. T. McCarthy, R. T. McCluskey, A. Miescher, P. A. Miescher, F. Pascher, N. F. Rothfield, R. Schuppli, H. Storck, M. B. Sulzberger, L. Zala, G. Miescher (eds.)