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Automatische Sichtprüfung: Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung
Automatische Sichtprüfung: Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung
  • PDF
  • German
  • Year: 2016
  • Author: Jürgen Beyerer, Fernando Puente León, Christian Frese (auth.)
Messtechnik: Grundlagen, Methoden und Anwendungen
Messtechnik: Grundlagen, Methoden und Anwendungen
  • PDF
  • German
  • Year: 2019
  • Author: Fernando Puente León
Signale und Systeme
Signale und Systeme
  • PDF
  • German
  • Year: 2019
  • Author: Fernando Puente León; Holger Jäkel
Ereignisdiskrete Systeme: Modellierung und Steuerung verteilter Systeme
Ereignisdiskrete Systeme: Modellierung und Steuerung verteilter Systeme
  • PDF
  • German
  • Year: 2013
  • Author: Fernando Puente León; Uwe Kiencke
Ereignisdiskrete Systeme: Modellierung und Steuerung verteilter Systeme
Ereignisdiskrete Systeme: Modellierung und Steuerung verteilter Systeme
  • PDF
  • German
  • Year: 2006
  • Author: Fernando Puente León; Uwe Kiencke
Machine Learning for Cyber Physical Systems: Selected papers from the International Conference ML4CPS 2018
Machine Learning for Cyber Physical Systems: Selected papers from the International Conference ML4CPS 2018
  • PDF
  • English
  • Year: 2019
  • Author: Jürgen Beyerer, Christian Kühnert, Oliver Niggemann
Signale und Systeme
Signale und Systeme
  • PDF
  • German
  • Year: 2015
  • Author: Fernando Puente León; Holger Jäkel; Uwe Kiencke
Signale und Systeme
Signale und Systeme
  • PDF
  • German
  • Year: 2011
  • Author: Fernando Puente León; Uwe Kiencke; Holger Jäkel
Pattern Recognition: Introduction, Features, Classifiers and Principles
Pattern Recognition: Introduction, Features, Classifiers and Principles
  • EPUB
  • English
  • Year: 2017
  • Author: Jürgen Beyerer; Matthias Richter; Matthias Nagel
Pattern Recognition: Introduction, Features, Classifiers and Principles
Pattern Recognition: Introduction, Features, Classifiers and Principles
  • PDF
  • English
  • Year: 2017
  • Author: Jürgen Beyerer; Matthias Richter; Matthias Nagel