Author: W. E. Wallace, S. G. Sankar, V. U. S. Rao, D. K. Hoffman, R. Ruedenberg, J. G. Verkade, K. D. Warren, K. Schubert, C. Linarès, A. Louat, M. Blanchard (auth.)
Author: R. E. Anderson, J. E. Boggan, L. J. Cerullo, M. C. Chan, G. J. Dohrmann, M. S. B. Edwards, V. A. Fasano, J. M. Gilsbach, A. Harders, R. M. Ikeda, P. J. Kelly, E. R. Laws Jr., G. Lee, T. Letardi, D. T. Mason, C. R. Neblett, R. W. Rand, A. Renieri, I. L. Richmond, J. M. Rubin, A. W. Silberman, R. Urciuoli, R. E. Wharen Jr. (auth.), Professor Victor Aldo Fasano (eds.)
Author: Arthur Leinbrock (auth.), R. M. Bohnstedt, W. Burckhardt, H. Grimmer, J. Hämel, S. Hellerström, A. Henschler-Greifelt, G. Hopf, J. Kimmig, A. Leinbrock, H. Löhe, N. Melczer, A. M. Memmesheimer, W. Nikolowski, A. Pillat, C. Schirren, W. Schmidt, W. Schneider, H. Schuermann, R. D. G. Ph. Simons, C. E. Sonck, J. Tappeiner, G. Veltman, E. Walch, H. Wilde, A. Winkler, P. Wodniansky, J. Zelger (eds.)