Author: I. Idy-Peretti, J. Bittoun (auth.), Daniel Vanel M.D., Michael T. Mc Namara M.D., O. Arcangioli M.D., L. Arrive M.D., B. Aubert M.D., R. Bénacerraf Prof., J.-M. Bigot Prof., J. Bittoun M.D., S. Blangy M.D., A. Bonnin M.D., A. Bonnin Prof., J. Broussin Prof., D. Buthiau M.D., J.-N. Buy M.D., A.-E. Cabée M.D., J.-M. Caille Prof., S. Chagnon M.D., J.-F. Chateil M.D., A. Chevrot Prof., C. Coffre M.D., D. Couanet M.D., E. Desprès M.D., J. De Tœuf M.D., J. Ecoiffier Prof., L. Engelholm M.D., G. Frija Prof., F. Gires M.D., N. Grenier M.D., P. Grenier Prof., C. Guinet M.D., F. Héran M.D., I. Idy-Peretti M.D., J. Jean-Mart Prof., P. Kien M.D., H. Kressel Prof., R. Lavayssière M.D., J. Leclère M.D., A. Leroy-Willig M.D., L. Malbec M.D., M. Marichez M.D., J. Masselot Prof., E. Meary M.D., Y. Menu M.D., G. Pallardy M.D., R.-A. Parienty M.D., J.-D. Piekarski M.D., J.-C. Roucayrol Prof., E. Schouman-Claeys M.D., C. Segebarth M.D., A. Sibert M.D., E. Somveille M.D., A. Taieb Prof., V. Tavière M.D., D
Author: Paul Gross, John T. McCarthy (auth.), S. R. Brunauer, P. Gross, O. Hornstein, E. G. Jung, H. Kuske, W. F. Lever, C. March, J. T. McCarthy, R. T. McCluskey, A. Miescher, P. A. Miescher, F. Pascher, N. F. Rothfield, R. Schuppli, H. Storck, M. B. Sulzberger, L. Zala, G. Miescher (eds.)
Author: Bromley, J. S.; Burke, Peter; Bury, J. P. T.; Carsten, F. L.; Cooper, J. P.; Crawley, C. W.; Darby, H. C.; Elton, G. R.; Fullard, Harold; Goodwin, A.; Hinsley, F. H.; Lindsay, J. O.; Mowat, C. L.; Potter, G. R.; Wernham, R. B
Author: Raymond Vanholder M.D., Ph.D., R. De Smet M.D., P. Vogeleere, C. Hsu M.D., Ph.D. (auth.), C. Jacobs, C. M. Kjellstrand, K. M. Koch, J. F. Winchester (eds.)
Author: S. M. Anstis, J. Atkinson, C. Blakemore, O. Braddick, T. Brandt, F. W. Campbell, S. Coren, J. Dichgans, P. C. Dodwell, P. D. Eimas, J. M. Foley, R. Fox, L. Ganz, M. Garrett, E. J. Gibson, J. S. Girgus, M. M. Haith, Y. Hatwell, E. R. Hilgard, D. Ingle, G. Johansson, B. Julesz, M. Konishi, J. R. Lackner, E. Levinson, A. M. Liberman, L. Maffei, T. Oyama, A. Pantle, E. Pöppel, R. Sekuler, C. F. Stromeyer, M. Studdert-Kennedy, H.-L. Teuber, R. K. Yin (auth.), Richard Held, Herschel W. Leibowitz, Hans-Lukas Teuber (eds.)