Author: T. E. Acree, J. Atema, J. E. Bardach, L. M. Bartoshuk, L. M. Beidler, R. M. Benjamin, R. M. Bradley, Z. Bujas, H. Burton, L. P. Cole, A. I. Farbman, L. Guth, H. Kalmus, M. Kare, K. Kurihara, D. H. McBurney, R. G. Murray, M. Nachman, C. Pfaffmann, M. Sato, R. S. Shallenberger, Y. Zotterman (auth.), Lloyd M. Beidler (eds.)
Author: Gregory Stephanopoulos, Ryan T. Gill (auth.), Jens Nielsen, L. Eggeling, J. Dynesen, M. Gárdonyi, R. T. Gill, A. A. de Graaf, B. Hahn-Hägerdal, L. J. Jönsson, C. Khosla, R. Licari, R. McDaniel, M. McIntyre, C. Miiller, J. Nielsen, R. R. Cordero Otero, H. Sahm, U. Sauer, D. E. Stafford, G. Stephanopoulos, C. E. Wahlbom, K. S. Yanagimachi, W. H. van Zyl (eds.)
Author: D. Durrer, L. Schoo, R. M. Schuilenburg, H. J. J. Wellens (auth.), J. L. R. M. Smeets, P. A. Doevendans, M. E. Josephson, Ch. Kirchhof, M. A. Vos (eds.)