Author: R. E. Anderson, J. E. Boggan, L. J. Cerullo, M. C. Chan, G. J. Dohrmann, M. S. B. Edwards, V. A. Fasano, J. M. Gilsbach, A. Harders, R. M. Ikeda, P. J. Kelly, E. R. Laws Jr., G. Lee, T. Letardi, D. T. Mason, C. R. Neblett, R. W. Rand, A. Renieri, I. L. Richmond, J. M. Rubin, A. W. Silberman, R. Urciuoli, R. E. Wharen Jr. (auth.), Professor Victor Aldo Fasano (eds.)
Author: W. Bäseler, G. Bauer, L. Dreyfus, R. Düll, L. Föppl, O. Föppl, J. Geiger, H. Hencky, K. Huber, Th. v. Kármán, O. Mader, L. Prandtl, C. Prinz, J. Schenk, W. Schlink, E. Schmidt, M. Schuler, F. Schwerd, D. Thoma, H. Thoma, S. Timoschenko, C. Weber (auth.)
Author: M. S. Silverberg, A.-K. Somani, K. A. Siminovitch (auth.), C. N. Williams, R. F. Bursey, D. G. Gall, F. Martin, R. S. McLeod, L. R. Sutherland, J. L. Wallace (eds.)
Author: L. Ho, R. van Leeuwen, P. T. V. M. de Jong, J. R. Vingerling, C. C. W. Klaver (auth.), Frank G. Holz, Daniel Pauleikhoff, Richard F. Spaide, Alan C. Bird (eds.)
Author: Bruno Oertel, Emil Schlander (auth.), G. Alexander, O. Beck, C. E. Benjamins, A. Blohmke, W. Brock, G. Brühl, A. J. Cemach, R. Eschweiler, M. Goerke, J. Hegener, V. Hinsberg, L. Lederer, M. Mann, Max Meyer, Th. Nühsmann, B. Oertel, A. Scheibe, R. Schilling, E. Schlander, P. Stenger (eds.)