Author: T. E. Acree, J. Atema, J. E. Bardach, L. M. Bartoshuk, L. M. Beidler, R. M. Benjamin, R. M. Bradley, Z. Bujas, H. Burton, L. P. Cole, A. I. Farbman, L. Guth, H. Kalmus, M. Kare, K. Kurihara, D. H. McBurney, R. G. Murray, M. Nachman, C. Pfaffmann, M. Sato, R. S. Shallenberger, Y. Zotterman (auth.), Lloyd M. Beidler (eds.)
Author: S. M. Anstis, J. Atkinson, C. Blakemore, O. Braddick, T. Brandt, F. W. Campbell, S. Coren, J. Dichgans, P. C. Dodwell, P. D. Eimas, J. M. Foley, R. Fox, L. Ganz, M. Garrett, E. J. Gibson, J. S. Girgus, M. M. Haith, Y. Hatwell, E. R. Hilgard, D. Ingle, G. Johansson, B. Julesz, M. Konishi, J. R. Lackner, E. Levinson, A. M. Liberman, L. Maffei, T. Oyama, A. Pantle, E. Pöppel, R. Sekuler, C. F. Stromeyer, M. Studdert-Kennedy, H.-L. Teuber, R. K. Yin (auth.), Richard Held, Herschel W. Leibowitz, Hans-Lukas Teuber (eds.)