Author: Abraham C.-L. Chian (auth.), A. C.-L. Chian, I. H. Cairns, S. B. Gabriel, J. P. Goedbloed, T. Hada, M. Leubner, L. Nocera, R. Stening, F. Toffoletto, C. Uberoi, J. A. Valdivia, U. Villante, C.-C. Wu, Y. Yan (eds.)
Author: J. P. Bruce (auth.), B. K. Afghan, D. Mackay, H. E. Braun, A. S. Y. Chau, J. Lawrence, D. R. S. Lean, O. Meresz, J. R. W. Miles, R. C. Pierce, G. A. V. Rees, R. E. White, D. M. Whittle, D. T. Williams (eds.)
Author: Keli Han, Tianshu Chu, Jonathan Hirst, Ian W M Smith, Sebastien Canneaux, Y Kim, F Calvo, Aurelien de la Lande, Rex T Skodje, S Kawai, Baron Petters, Raymond Kapral, Hyung J Kim, Yi Zhao, Yijing Yan, John Z H Zhang, Dorota Swiatla-Wojcik, Patrick Bertrand, A J C Varandas, D Borgis, K Senthilkumar, William L Hase, Jiali Gao
Author: S. M. Anstis, J. Atkinson, C. Blakemore, O. Braddick, T. Brandt, F. W. Campbell, S. Coren, J. Dichgans, P. C. Dodwell, P. D. Eimas, J. M. Foley, R. Fox, L. Ganz, M. Garrett, E. J. Gibson, J. S. Girgus, M. M. Haith, Y. Hatwell, E. R. Hilgard, D. Ingle, G. Johansson, B. Julesz, M. Konishi, J. R. Lackner, E. Levinson, A. M. Liberman, L. Maffei, T. Oyama, A. Pantle, E. Pöppel, R. Sekuler, C. F. Stromeyer, M. Studdert-Kennedy, H.-L. Teuber, R. K. Yin (auth.), Richard Held, Herschel W. Leibowitz, Hans-Lukas Teuber (eds.)