Author: Jeffrey H. Miller (auth.), W. Arber, S. Falkow, W. Henle, P. H. Hofschneider, J. H. Humphrey, J. Klein, P. Koldovský, H. Koprowski, O. Maaløe, F. Melchers, R. Rott, H. G. Schweiger, L. Syruček, P. K. Vogt (eds.)
Author: Bromley, J. S.; Burke, Peter; Bury, J. P. T.; Carsten, F. L.; Cooper, J. P.; Crawley, C. W.; Darby, H. C.; Elton, G. R.; Fullard, Harold; Goodwin, A.; Hinsley, F. H.; Lindsay, J. O.; Mowat, C. L.; Potter, G. R.; Wernham, R. B
Author: S. M. Anstis, J. Atkinson, C. Blakemore, O. Braddick, T. Brandt, F. W. Campbell, S. Coren, J. Dichgans, P. C. Dodwell, P. D. Eimas, J. M. Foley, R. Fox, L. Ganz, M. Garrett, E. J. Gibson, J. S. Girgus, M. M. Haith, Y. Hatwell, E. R. Hilgard, D. Ingle, G. Johansson, B. Julesz, M. Konishi, J. R. Lackner, E. Levinson, A. M. Liberman, L. Maffei, T. Oyama, A. Pantle, E. Pöppel, R. Sekuler, C. F. Stromeyer, M. Studdert-Kennedy, H.-L. Teuber, R. K. Yin (auth.), Richard Held, Herschel W. Leibowitz, Hans-Lukas Teuber (eds.)