Author: T. E. Acree, J. Atema, J. E. Bardach, L. M. Bartoshuk, L. M. Beidler, R. M. Benjamin, R. M. Bradley, Z. Bujas, H. Burton, L. P. Cole, A. I. Farbman, L. Guth, H. Kalmus, M. Kare, K. Kurihara, D. H. McBurney, R. G. Murray, M. Nachman, C. Pfaffmann, M. Sato, R. S. Shallenberger, Y. Zotterman (auth.), Lloyd M. Beidler (eds.)
Author: Richard W. Faas, Neal R. O’Brien (auth.), Richard H. Bennett, William R. Bryant, Matthew H. Hulbert, W. A. Chiou, R. W. Faas, J. Kasprowicz, H. Li, T. Lomenick, N. R. O’Brien, S. Pamukcu, P. Smart, C. E. Weaver, T. Yamamoto (eds.)
Author: E. W. Abrahamson, Ch. Baumann, C. D. B. Bridges, F. Crescitelli, H. J. A. Dartnall, R. M. Eakin, G. Falk, P. Fatt, T. H. Goldsmith, R. Hara, T. Hara, S. M. Japar, P. A. Liebman, J. N. Lythgoe, R. A. Morton, W. R. A. Muntz, W. A. H. Rushton, T. I. Shaw, J. R. Wiesenfeld, T. Yoshizawa (auth.), Herbert J. A. Dartnall (eds.)