Author: T. E. Acree, J. Atema, J. E. Bardach, L. M. Bartoshuk, L. M. Beidler, R. M. Benjamin, R. M. Bradley, Z. Bujas, H. Burton, L. P. Cole, A. I. Farbman, L. Guth, H. Kalmus, M. Kare, K. Kurihara, D. H. McBurney, R. G. Murray, M. Nachman, C. Pfaffmann, M. Sato, R. S. Shallenberger, Y. Zotterman (auth.), Lloyd M. Beidler (eds.)
Author: Richard W. Faas, Neal R. O’Brien (auth.), Richard H. Bennett, William R. Bryant, Matthew H. Hulbert, W. A. Chiou, R. W. Faas, J. Kasprowicz, H. Li, T. Lomenick, N. R. O’Brien, S. Pamukcu, P. Smart, C. E. Weaver, T. Yamamoto (eds.)
Author: A. Chatterjee, A. R. H. Cole, W. Grassmann, T. Noƶoe, S. C. Pakrashi, R. J. Price, O. Th. Schmidt, Ch. Tamm, G. Werner, E. Wünsch (auth.), L. Ƶechmeister (eds.)
Author: J. P. Bruce (auth.), B. K. Afghan, D. Mackay, H. E. Braun, A. S. Y. Chau, J. Lawrence, D. R. S. Lean, O. Meresz, J. R. W. Miles, R. C. Pierce, G. A. V. Rees, R. E. White, D. M. Whittle, D. T. Williams (eds.)
Author: A. v. Muralt (auth.), O. Krayer, E. Lehnartz, A. v. Muralt, H. H. Weber, R. Acher, S. J. Bach, W. Dirscherl, J. T. Edsall, C. Fromageot, F. Heim, U. C. Luft, A. M. Monnier, D. Nachmansohn, H. Weil-Malherbe, H. Winterstein (eds.)