Author: R. E. Anderson, J. E. Boggan, L. J. Cerullo, M. C. Chan, G. J. Dohrmann, M. S. B. Edwards, V. A. Fasano, J. M. Gilsbach, A. Harders, R. M. Ikeda, P. J. Kelly, E. R. Laws Jr., G. Lee, T. Letardi, D. T. Mason, C. R. Neblett, R. W. Rand, A. Renieri, I. L. Richmond, J. M. Rubin, A. W. Silberman, R. Urciuoli, R. E. Wharen Jr. (auth.), Professor Victor Aldo Fasano (eds.)
Author: N. C. Andreasen, J. C. Ehrhardt, V. W. Swayze II, W. T. C. Yuh, N. Blakley, S. Ziebell (auth.), C. L. Cazzullo, E. Sacchetti, G. Conte, G. Invernizzi, A. Vita (eds.)
Author: G. B. Arden, J. Wrobleski, S. Bhattacharya, F. Fitzke, C. J. Hogg, A. Eckstein (auth.), B. Drum, A. J. Adams, C. R. Cavonius, S. J. Dain, G. Haegerstrom-Portnoy, K. Kitahara, K. Knoblauch, A. Kurtenbach, B. B. Lee, J. Mollon, J. D. Moreland, J. Pokorny, L. T. Sharpe, H. A. Sperling, W. H. Swanson, E. Zrenner (eds.)